Equipamentos para testes e análises de superfície: Perfilometros óticos 2D e 3D, microscópio de força atômica (AFM), sistema de espectroscopia por raio-x (XPS), sistemas de microscopia de corrente de tunelamento (STM)
Sistemas de espectroscopia de raio-x (XPS) e ultra-violeta (USP) em ultra alto vácuo, sistemas de espectroscopia em pressões próximas do ambiente NAP-XPS
Microscopia de varredura (SPM), microscopia eletrônica de baixa energia (LEEM), microscopia eletrônica de fotoemissão (PEEM)
Testes nanomecânicos, perfilômetros 2D e 3D óptico ou por sonda, rugosímetros, reflectômetros